beat365各位教師、同學(xué)：
為了更好為全院師生科研服務(wù)，中心即將開始掃描電鏡與透射電鏡的測試服務(wù)，定于2021年4月7日開展掃描電鏡和透射電鏡的制樣與送樣培訓(xùn)。建議每個(gè)課題組安排1~2名人員參加培訓(xùn)，碩博士均可參加。請以課題組為單位，將姓名、學(xué)號、電話、課題組負(fù)責(zé)人及所屬學(xué)院的信息編輯成Excel發(fā)送至442782851@qq.com。
時(shí)間：2021年4月7日星期三10:00-11:00
地點(diǎn)：江安校區(qū)卓越工程師訓(xùn)練中心一樓報(bào)告廳
內(nèi)容：掃描電鏡和透射電鏡的制樣與送樣培訓(xùn)
培訓(xùn)人：黃艷萍老師
beat365工程實(shí)驗(yàn)教學(xué)中心
2021年3月30日
附：主要技術(shù)指標(biāo)
JSM-7610F掃描電鏡：
超高的分辨圖像的觀察，最大放大倍數(shù)1百萬倍
在低加速電壓下仍保持極高的分辨率，特別適合納米材料表面細(xì)節(jié)觀察和不導(dǎo)電樣品觀察，分辨率指標(biāo)如下：
1.0nm (二次電子,加速電壓：15kV)
1.3nm (二次電子,加速電壓：1kV)
1.5nm (背散射電子.加速電壓：1kV)
五軸馬達(dá)樣品臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)控制
標(biāo)配可擴(kuò)展真空轉(zhuǎn)移裝置接口
標(biāo)配GB模式
能量過濾器：可以按任意比例混合二次電子和背散射電子圖像
圓錐型熱場發(fā)射電子槍：電子束虛漂移小，改變加速電壓無需手動(dòng)調(diào)節(jié)虛漂移點(diǎn)。
JEM-F200透射電鏡：
加速電壓：20 KV-200 KV
TEM放大倍率：20-2.0 M
STEM放大倍率：200-150 M
線分辨率：≤0.1 nm@200 KV；≤ 0.14 nm@80KV
點(diǎn)分辨率：≤0.19 nm@200KV
背散射電子分辨率：≤1.0 nm@200KV
STEM BF/DF分辨率：≤0.16 nm@200KV
信息分辨率：≤0.12 nm@200KV
能量分辨率：優(yōu)于130 eV
元素分析范圍：4B至92U
